Verification methods for complex-functional blocks in CAD for chips deep submicron design standards

Бібліографічні деталі

Опубліковано в::	E3S Web of Conferences vol. 376 (2023), p. n/a
Автор:	Zolnikov, Vladimir
Інші автори:	Zolnikov, Konstantin, Ilina, Nadezhda, Grabovy, Kirill
Опубліковано:	EDP Sciences
Предмети:	Russia Very large scale integration Design standards Verification Circuit design Integrated circuits Software Semiconductors Environmental
Онлайн доступ:	Citation/Abstract Full Text - PDF
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!