Verification methods for complex-functional blocks in CAD for chips deep submicron design standards

書誌詳細

出版年:	E3S Web of Conferences vol. 376 (2023), p. n/a
第一著者:	Zolnikov, Vladimir
その他の著者:	Zolnikov, Konstantin, Ilina, Nadezhda, Grabovy, Kirill
出版事項:	EDP Sciences
主題:	Russia Very large scale integration Design standards Verification Circuit design Integrated circuits Software Semiconductors Environmental
オンライン･アクセス:	Citation/Abstract Full Text - PDF
タグ:	タグ追加 タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!